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產(chǎn)品中心臺(tái)式電鏡&臺(tái)階儀&原位分析澤攸臺(tái)式掃描電鏡
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原位實(shí)驗(yàn)方案：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。
更新時(shí)間：2026-01-04
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納米尺度分析：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。
更新時(shí)間：2026-01-04產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：213
高分辨成像：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶(hù)，澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶(hù)對(duì)大型設(shè)備空間的依賴(lài)。
更新時(shí)間：2026-01-04產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：212澤攸透射電鏡：探索微觀世界 澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊，適合實(shí)驗(yàn)室環(huán)境。
更新時(shí)間：2026-01-04產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：223
澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺(tái)式掃描電子顯微鏡，專(zhuān)為材料科學(xué)、生命科學(xué)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)。該設(shè)備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢(shì)的同時(shí)，通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了操作簡(jiǎn)便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡技術(shù)解析與應(yīng)用
更新時(shí)間：2026-01-04產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：386
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