ContourX-500布魯克于增材制造的質(zhì)量控制
增材制造（3D打印）技術(shù)正在重塑制造業(yè)，但其內(nèi)部及表面質(zhì)量的控制是行業(yè)面臨的挑戰(zhàn)。ContourX-500布魯克白光干涉測量系統(tǒng)，為非接觸式測量3D打印零件表面形貌、評估打印質(zhì)量、優(yōu)化工藝參數(shù)提供了高效解決方案。增材制造通過逐層堆積材料的方式構(gòu)建零件，這一過程不可避免地會(huì)引入階梯效應(yīng)、粉末粘連、球化、翹曲等的表面特征。這些特征不僅影響零件的尺寸精度和裝配，更直接影響其力學(xué)性能、疲勞強(qiáng)度、流體阻力以及后處理需求。因此，對打印件表面進(jìn)行精確表征，是評估打印質(zhì)量、認(rèn)證零件性能、以及迭代優(yōu)化工藝的關(guān)鍵步驟。ContourX-500布魯克適用于測量多種增材制造技術(shù)（如SLM、SLS、FDM、SLA等）生產(chǎn)的金屬、聚合物及陶瓷零件。它能夠全面量化打印表面的三維形貌，包括：
表面粗糙度：測量打印層紋產(chǎn)生的算術(shù)平均粗糙度（Sa）、均方根粗糙度（Sq）等，評估表面光潔度。
打印缺陷：識(shí)別和量化因未熔合、飛濺或粉末粘連形成的表面孔洞、凸起或凹陷的尺寸與分布。
上表面與下表面差異：測量朝上表面（與刮刀或重涂器接觸）和朝下表面（與基板或支撐結(jié)構(gòu)接觸）的形貌差異，這對于理解不同朝向的散熱條件和表面質(zhì)量至關(guān)重要。
懸垂結(jié)構(gòu)質(zhì)量：評估具有大角度懸垂或復(fù)雜內(nèi)腔結(jié)構(gòu)區(qū)域的表面質(zhì)量，這些區(qū)域通常質(zhì)量較差。
支撐結(jié)構(gòu)接觸面：測量移除支撐結(jié)構(gòu)后殘留的表面粗糙度與損傷，為優(yōu)化支撐設(shè)計(jì)和移除工藝提供數(shù)據(jù)。
后處理效果：量化比較經(jīng)噴砂、拋光、機(jī)加工等后處理工藝前后的表面形貌變化，評估后處理工藝的有效性。
在工藝研發(fā)中，工程師可以利用ContourX-500布魯克進(jìn)行系統(tǒng)的參數(shù)研究。例如，通過測量不同激光功率、掃描速度、層厚、掃描策略下打印的試樣表面，建立工藝參數(shù)與表面質(zhì)量之間的定量關(guān)系圖，從而找到打印參數(shù)組合，在保證致密度的同時(shí)獲得表面質(zhì)量。在生產(chǎn)質(zhì)量控制中，該系統(tǒng)可用于對關(guān)鍵打印零件進(jìn)行定期抽檢或全檢。通過與CAD模型或標(biāo)準(zhǔn)樣件進(jìn)行三維比對，可以直觀顯示打印件的尺寸偏差和形貌誤差云圖。這對于航空航天、醫(yī)療等對零件性能要求高的領(lǐng)域的質(zhì)量認(rèn)證尤為重要。由于增材制造零件通常結(jié)構(gòu)復(fù)雜且價(jià)值較高，非接觸測量的優(yōu)勢更加凸顯。ContourX-500布魯克不會(huì)對精細(xì)或脆弱的表面結(jié)構(gòu)造成損傷，并能測量傳統(tǒng)接觸式測頭難以觸及的內(nèi)部或復(fù)雜曲面區(qū)域。綜上所述，ContourX-500布魯克為增材制造領(lǐng)域帶來了關(guān)鍵的表面計(jì)量能力。它將打印件表面這一重要的“工藝指紋"轉(zhuǎn)化為客觀、可分析的數(shù)據(jù)，幫助用戶從經(jīng)驗(yàn)性的試錯(cuò)轉(zhuǎn)向數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)的工藝優(yōu)化與質(zhì)量控制，加速增材制造技術(shù)從原型制作走向高質(zhì)量、高可靠性的最終零件生產(chǎn)。
ContourX-500布魯克于增材制造的質(zhì)量控制
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