徠卡顯微鏡偏光技術：揭示材料內(nèi)在特性

徠卡Visoria P偏光顯微鏡的核心能力在于其偏光觀察技術，它利用偏振光來研究各向異性材料的光學特性。顯微鏡配備了完整的偏光組件，包括偏光片、檢偏鏡和補償器。檢偏鏡有固定、180°、360°等多種配置，使研究人員能夠靈活設置觀察條件。補償器方面，系統(tǒng)支持最多5級或30級的傾斜補償器，以及石英楔，λ和1/4 λ板，這些組件對于精確測量樣品的雙折射特性至關重要。

在光學性能方面，Visoria P采用了無應力光學部件，這是偏光顯微鏡的關鍵要求，因為它能確保觀察到的雙折射來自樣品本身而非光學部件。物鏡為偏光專用設計，配有25mm直徑的偏光專用物鏡，支持從低倍到高倍的觀察需求。顯微鏡整體光路支持25mm視野直徑，提供了較為寬闊的觀察范圍。對于需要精確對準的偏光觀察，物鏡轉盤具有可調(diào)中功能，確保每個物鏡都能準確對中。

Visoria P支持三種不同的偏光觀察模式：平行偏振光、正交偏振光和圓偏振光。在平行偏振光模式下，當偏光片和檢偏鏡平行時，可以觀察到樣品結構和特征顏色；在正交偏振光模式下，偏光片和檢偏鏡呈90°交叉，有助于識別雙折射材料；圓偏振光則通過在偏光片和檢偏鏡之間插入四分之一波片產(chǎn)生，有利于研究某些雙折射材料。這些不同的觀察模式為材料研究提供了多種視角。

錐光觀察是Visoria P的另一個特點。通過分析干涉圖，研究人員可以獲得關于晶體內(nèi)部結構和光學特性的更多信息，例如光軸數(shù)量。顯微鏡提供三個錐光鏡模塊選擇：勃氏鏡濾塊、勃氏鏡模塊（A/B模塊）和高級錐光鏡模塊（可調(diào)焦），滿足不同級別的研究需求。錐光法對于評估各向異性材料的光學特性很有用，在研究礦物、巖石、煤炭、塑料、聚合物等材料時能夠提供關鍵結果。

使用說明：進行偏光觀察前，需要確定起偏振鏡或檢偏振鏡振動方向。可以通過觀察工作臺上的黑云母切片來校準：當黑云母解理與起偏振鏡的振動方向平行時呈現(xiàn)深棕色，垂直時呈現(xiàn)淡黃色。起偏振鏡與檢偏鏡應正交，通過轉動起偏振鏡至最暗位置來確認。日常使用中，應定期檢查偏光組件的對齊情況，確保觀察結果的準確性。

參數(shù)表：

• 偏光組件：偏光片、檢偏鏡、補償器

• 檢偏鏡類型：固定、180°、360°

• 補償器：傾斜補償器（最多5級或30級）、石英楔、λ和1/4 λ板

• 錐光鏡模塊：勃氏鏡濾塊、勃氏鏡模塊（A/B模塊）、高級錐光鏡模塊

• 光學部件：無應力光學部件

• 物鏡：偏光專用物鏡，25mm直徑

• 觀察模式：平行偏振光、正交偏振光、圓偏振光

用途：Visoria P偏光顯微鏡廣泛應用于地質(zhì)學、材料科學和生物學等領域。在地質(zhì)學中，可用于礦物鑒定和巖石分析；在材料科學中，適用于研究塑料、聚合物、液晶、玻璃和混凝土等材料的特性；在生物學中，可用于觀察具有雙折射特性的生物組織。

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