Sensofar經(jīng)濟(jì)型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優(yōu)良光學(xué)技術(shù)的高精度測(cè)量設(shè)備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精度的表面形貌測(cè)量。設(shè)備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測(cè)量能力，適用于多種材質(zhì)和結(jié)構(gòu)的表面檢測(cè)。

該設(shè)備支持多種測(cè)量模式，包括自動(dòng)拼接檢測(cè)、一鍵3D測(cè)量和交互式分析，滿(mǎn)足不同測(cè)量需求。其智能化操作界面和自適應(yīng)USI模式，能夠快速獲得測(cè)量結(jié)果和報(bào)告輸出。此外，設(shè)備支持多種樣品反射率范圍（0.05%~100%），適用于多種材料的表面檢測(cè)。

在工業(yè)應(yīng)用中，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、汽車(chē)、電子、材料等領(lǐng)域，能夠?qū)Ρ砻娲植诙?、紋理、缺陷等進(jìn)行專(zhuān)業(yè)分析。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的損傷，適用于精密加工和微納結(jié)構(gòu)檢測(cè)。

Sensofar經(jīng)濟(jì)型三維共聚焦白光干涉輪廓儀是一款集成了多種優(yōu)良光學(xué)技術(shù)的高精度測(cè)量設(shè)備。其核心功能包括共聚焦、白光干涉和相位差干涉，能夠?qū)崿F(xiàn)納米級(jí)精度的表面形貌測(cè)量。設(shè)備具備高分辨率、快速掃描和大范圍測(cè)量能力，適用于多種材質(zhì)和結(jié)構(gòu)的表面檢測(cè)。

該設(shè)備支持多種測(cè)量模式，包括自動(dòng)拼接檢測(cè)、一鍵3D測(cè)量和交互式分析，滿(mǎn)足不同測(cè)量需求。其智能化操作界面和自適應(yīng)USI模式，能夠快速獲得測(cè)量結(jié)果和報(bào)告輸出。此外，設(shè)備支持多種樣品反射率范圍（0.05%~100%），適用于多種材料的表面檢測(cè)。

在工業(yè)應(yīng)用中，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、汽車(chē)、電子、材料等領(lǐng)域，能夠?qū)Ρ砻娲植诙?、紋理、缺陷等進(jìn)行專(zhuān)業(yè)分析。其非接觸式測(cè)量方式避免了對(duì)樣品的損傷，適用于精密加工和微納結(jié)構(gòu)檢測(cè)。