Sensofar LIN系列三維光學(xué)輪廓儀定位清晰，旨在為用戶提供一種實(shí)用且經(jīng)濟(jì)的光學(xué)測量解決方案。它主要集成共聚焦和白光干涉（VSI）兩種常用的光學(xué)輪廓測量技術(shù)，在滿足絕大多數(shù)常規(guī)測量需求的同時(shí)，控制了系統(tǒng)的復(fù)雜度和成本。

LIN系列的設(shè)計(jì)專注于核心功能。它提供了穩(wěn)定可靠的機(jī)械平臺和標(biāo)準(zhǔn)的光學(xué)配置，用戶可以根據(jù)自己主要的應(yīng)用場景（例如，偏重粗糙表面還是光滑表面）來選擇側(cè)重于共聚焦或白光干涉的配置。雖然它不像S neox那樣包含PSI模式且物鏡切換的自動化程度可能有所不同，但其測量性能在各自的適用范圍內(nèi)依然表現(xiàn)出了良好的特性。

共聚焦模式使其能夠應(yīng)對具有一定粗糙度或復(fù)雜形貌的樣品，如機(jī)械加工表面、涂層、噴丸表面等。而白光干涉模式則適用于測量平滑表面的臺階高度、薄膜厚度和納米級紋理，如硅片、玻璃基板或拋光金屬表面。

典型用途包括：

• 質(zhì)量控制： 在生產(chǎn)線上對零部件（如密封圈、小型軸承、精密注塑件）的表面進(jìn)行快速抽檢。

• 材料研究： 在高?；蚱髽I(yè)研發(fā)部門，分析各種材料試樣的表面磨損、腐蝕或加工后的形貌變化。

• 電子行業(yè)： 測量PCB板焊盤高度、小型電子元器件的共面性。

使用說明： LIN系列的操作力求簡潔。用戶放置樣品后，在軟件上選擇測量模式（共聚焦或VSI）和合適的物鏡，設(shè)定掃描范圍后即可開始自動測量。軟件提供標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)分析工具，如粗糙度、臺階高度、體積計(jì)算等，可快速生成檢測報(bào)告。

對于預(yù)算有限、測量任務(wù)相對集中，或希望為生產(chǎn)線配備高效檢測工具的用戶來說，LIN系列提供了一個(gè)門檻相對較低且功能實(shí)用的入門選擇。