在材料科學(xué)、生物研究等領(lǐng)域，對微觀結(jié)構(gòu)的清晰觀察是探索物質(zhì)特性的基礎(chǔ)，臺式掃描電子顯微鏡 ZEM15 憑借緊湊設(shè)計與穩(wěn)定性能，成為實(shí)驗(yàn)室中實(shí)用的觀察工具。
一、產(chǎn)品細(xì)節(jié)：緊湊設(shè)計適配實(shí)驗(yàn)室場景
ZEM15 采用臺式機(jī)身設(shè)計，整體尺寸約為 650mm×500mm×800mm，重量控制在 80kg 以內(nèi)，無需專門的大型實(shí)驗(yàn)室空間，普通實(shí)驗(yàn)室的操作臺即可容納。機(jī)身外殼選用高強(qiáng)度 ABS 工程塑料，表面經(jīng)過啞光處理，不僅具備良好的抗沖擊性，能抵御日常使用中的輕微碰撞，還能減少環(huán)境光線反射對操作視野的影響。
設(shè)備的樣品室采用不銹鋼材質(zhì)打造，內(nèi)壁經(jīng)過精密拋光處理，既保證了樣品室的密封性，防止外部灰塵進(jìn)入影響觀察，又便于清潔，每次使用后用無塵布擦拭即可去除殘留污漬。樣品室最大可容納直徑 50mm、高度 30mm 的樣品，搭配可調(diào)節(jié)樣品臺，支持 X 軸 ±25mm、Y 軸 ±25mm、Z 軸 50mm 的移動范圍，能靈活調(diào)整樣品位置，滿足不同觀察角度的需求。
操作面板位于機(jī)身正面，采用觸控式設(shè)計，配備 5 英寸高清顯示屏，常用功能如 “啟動掃描"“倍率調(diào)節(jié)"“圖像保存" 等均以圖標(biāo)形式呈現(xiàn)，界面簡潔直觀，操作人員無需復(fù)雜培訓(xùn)即可快速熟悉操作流程。同時，設(shè)備配備 USB3.0 接口與 HDMI 接口，USB 接口可用于連接 U 盤導(dǎo)出圖像數(shù)據(jù)，HDMI 接口支持外接顯示器，方便多人同時觀察分析。
二、產(chǎn)品性能：清晰成像滿足基礎(chǔ)觀察
ZEM15 的電子光學(xué)系統(tǒng)采用鎢燈絲電子槍，加速電壓范圍為 0.5kV～15kV，可根據(jù)樣品材質(zhì)調(diào)整電壓：對于導(dǎo)電性較差的生物樣品，選用低電壓（0.5kV～5kV）觀察，能減少樣品充電現(xiàn)象，避免圖像出現(xiàn)亮斑或失真；對于金屬、陶瓷等導(dǎo)電性較好的材料，可使用高電壓（5kV～15kV），提升成像分辨率。
設(shè)備的分辨率在 30kV 加速電壓下可達(dá) 3.0nm，在 1kV 低電壓下可達(dá) 8.0nm，能清晰呈現(xiàn)樣品表面的微觀形貌，例如觀察金屬材料的晶粒結(jié)構(gòu)時，可分辨出晶粒之間的晶界；觀察生物組織切片時，能看到細(xì)胞表面的細(xì)微褶皺。掃描速度分為慢、中、快三檔，慢掃模式適合獲取高清晰度圖像，用于科研報告中的圖像展示；快掃模式則可快速預(yù)覽樣品整體結(jié)構(gòu)，提高觀察效率。
此外，ZEM15 配備二次電子探測器與背散射電子探測器，二次電子探測器主要用于觀察樣品表面的形貌特征，背散射電子探測器則能根據(jù)樣品元素原子序數(shù)的差異生成襯度圖像，幫助區(qū)分樣品中的不同成分。例如在觀察合金材料時，通過背散射電子圖像可清晰看到不同金屬相的分布情況。
三、用材與參數(shù)：保障穩(wěn)定運(yùn)行
在關(guān)鍵部件用材上，ZEM15 的電子透鏡采用純鐵材質(zhì)，經(jīng)過精密加工與真空熱處理，確保透鏡具有良好的導(dǎo)磁性能，能有效聚焦電子束，減少電子束發(fā)散。樣品臺的導(dǎo)軌采用硬質(zhì)合金材質(zhì)，表面經(jīng)過氮化處理，硬度高、耐磨性強(qiáng)，長期使用后仍能保持穩(wěn)定的移動精度，避免因?qū)к壞p導(dǎo)致樣品位置偏移。
以下為 ZEM15 的核心參數(shù)表：
四、用途與使用說明：覆蓋多領(lǐng)域需求
ZEM15 的用途廣泛，在材料科學(xué)領(lǐng)域，可用于觀察金屬、陶瓷、聚合物等材料的表面形貌，分析材料的微觀結(jié)構(gòu)與性能之間的關(guān)系，例如研究金屬材料的磨損表面，判斷磨損機(jī)制；在生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域，可對脫水后的生物組織、細(xì)胞進(jìn)行觀察，輔助研究細(xì)胞形態(tài)變化與疾病之間的關(guān)聯(lián)；在電子行業(yè)，能觀察芯片表面的焊接情況，檢測是否存在虛焊、漏焊等缺陷。
使用 ZEM15 時，需遵循以下步驟：首先進(jìn)行設(shè)備預(yù)熱，打開電源開關(guān)后，等待真空系統(tǒng)啟動，待樣品室真空度達(dá)到 10?3Pa 以下（可通過設(shè)備顯示屏查看），再進(jìn)行后續(xù)操作；然后將樣品固定在樣品臺上，樣品需經(jīng)過預(yù)處理（如導(dǎo)電性差的樣品需噴金處理），避免觀察時出現(xiàn)充電現(xiàn)象；接著通過操作面板調(diào)整加速電壓、放大倍率等參數(shù)，移動樣品臺將待觀察區(qū)域移至電子束掃描范圍內(nèi)；最后啟動掃描功能，設(shè)備會自動生成圖像，可通過顯示屏實(shí)時查看，滿意的圖像可通過 USB 接口保存至 U 盤。
使用過程中需注意，樣品室真空度未達(dá)標(biāo)時不可啟動電子槍，避免電子槍損壞；觀察完成后，需先關(guān)閉電子槍，待樣品室放氣至常壓后，再取出樣品，防止樣品在真空狀態(tài)下受損。
五、型號特點(diǎn)：適配基礎(chǔ)科研需求
作為 ZEM 系列中的基礎(chǔ)型號，ZEM15 在保證核心性能的同時，兼顧了經(jīng)濟(jì)性與實(shí)用性，適合高校實(shí)驗(yàn)室、中小型科研機(jī)構(gòu)等對觀察精度要求適中的場景。其無需復(fù)雜的安裝流程，開箱后連接電源即可使用，減少了設(shè)備部署的時間成本；同時，設(shè)備的維護(hù)難度較低，定期更換機(jī)械泵油、清潔樣品室即可保障設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行，降低了長期使用成本。
無論是日常的教學(xué)實(shí)驗(yàn)，還是基礎(chǔ)的科研項(xiàng)目，ZEM15 都能提供清晰、穩(wěn)定的微觀圖像，為用戶探索微觀世界提供有力支持。
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