布魯克三維光學(xué)輪廓儀：小型實(shí)驗(yàn)室測(cè)量利器
對(duì)于空間有限的小型實(shí)驗(yàn)室或教學(xué)實(shí)驗(yàn)室，布魯克三維光學(xué)輪廓儀 ContourX-200 以其小巧身形與實(shí)用性能，成為微觀測(cè)量工作的理想選擇。
產(chǎn)品細(xì)節(jié)
ContourX-200 采用迷你桌面設(shè)計(jì)，機(jī)身重量僅 8kg，尺寸與一臺(tái)小型打印機(jī)相近，可直接放置在普通實(shí)驗(yàn)臺(tái)角落，極大節(jié)省空間。操作界面采用簡化設(shè)計(jì)，僅保留核心功能按鍵，搭配清晰的圖標(biāo)式顯示屏，適合學(xué)生或新手快速掌握操作流程。樣品臺(tái)為手動(dòng)調(diào)節(jié)式，配備刻度標(biāo)尺，便于操作人員直觀判斷樣品移動(dòng)距離，雖無自動(dòng)平移功能，但結(jié)構(gòu)簡單可靠，維護(hù)成本低。設(shè)備光學(xué)部件集成度高，鏡頭與光源一體化設(shè)計(jì)，無需復(fù)雜的光學(xué)調(diào)試步驟，開箱后連接電源即可使用。機(jī)身側(cè)面設(shè)有便攜提手，方便在不同實(shí)驗(yàn)室間移動(dòng)，滿足多房間教學(xué)或臨時(shí)測(cè)量需求。
產(chǎn)品性能
ContourX-200 雖體積小巧，但測(cè)量性能可滿足基礎(chǔ)微觀測(cè)量需求。其采用白光干涉測(cè)量技術(shù)，能對(duì)表面粗糙度 Ra 值在 0.01 - 10μm 范圍內(nèi)的樣品進(jìn)行有效測(cè)量，如塑料樣品的表面紋理、薄金屬片的厚度差等。設(shè)備測(cè)量數(shù)據(jù)的重復(fù)性較好，在相同條件下多次測(cè)量，結(jié)果偏差較小，適合教學(xué)實(shí)驗(yàn)中對(duì)比不同樣品的特性差異。測(cè)量速度適中，單次小區(qū)域（如 500μm×500μm）掃描時(shí)間約 1 - 2 分鐘，既能完成教學(xué)演示，又不會(huì)讓實(shí)驗(yàn)過程過于冗長。此外，設(shè)備具備數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示功能，掃描過程中可動(dòng)態(tài)觀察樣品表面三維形貌的生成，便于教學(xué)中直觀講解測(cè)量原理。
用材講究
為控制體積與重量，ContourX-200 外殼采用輕質(zhì)高強(qiáng)度工程塑料，具備一定的抗摔能力，適合教學(xué)環(huán)境中頻繁移動(dòng)與使用。光學(xué)鏡頭選用高透光率樹脂鏡片，雖在精度要求下略遜于玻璃鏡片，但能滿足基礎(chǔ)測(cè)量與教學(xué)需求，且成本更低、不易破碎。樣品臺(tái)臺(tái)面采用耐磨的亞克力材質(zhì)，表面光滑平整，可直接放置樣品，無需額外夾具，簡化操作步驟。內(nèi)部電路采用低功耗設(shè)計(jì)，搭配節(jié)能光源，不僅降低耗電量，還減少設(shè)備發(fā)熱，延長使用壽命。
參數(shù)詳情
廣泛用途
在高校教學(xué)實(shí)驗(yàn)中，ContourX-200 可用于材料科學(xué)基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)，讓學(xué)生學(xué)習(xí)表面粗糙度測(cè)量方法；在中職院校的機(jī)械專業(yè)實(shí)訓(xùn)中，能幫助學(xué)生檢測(cè)手工打磨零件的表面質(zhì)量，理解加工工藝對(duì)表面特性的影響；在小型科研團(tuán)隊(duì)中，適合用于新材料的初步篩選測(cè)量，如檢測(cè)不同配方涂層的厚度均勻性；此外，在中小學(xué)的科普實(shí)驗(yàn)中，也可通過其直觀的三維成像，讓學(xué)生初步了解微觀世界的表面形態(tài)。
使用說明
使用前，將 ContourX-200 放置在平穩(wěn)的實(shí)驗(yàn)臺(tái)上，避免靠近窗戶或空調(diào)出風(fēng)口，防止光線直射與氣流干擾。連接電源與電腦，安裝配套測(cè)量軟件并完成設(shè)備連接。清潔樣品表面，去除灰塵與雜質(zhì)，將樣品直接放置在樣品臺(tái)中央，通過手動(dòng)旋鈕移動(dòng)樣品臺(tái)，使測(cè)量區(qū)域?qū)?zhǔn)鏡頭下方。打開軟件，設(shè)置測(cè)量參數(shù)（如掃描范圍、分辨率），點(diǎn)擊 “對(duì)焦" 按鈕，軟件自動(dòng)完成對(duì)焦操作，若對(duì)焦效果不佳，可手動(dòng)微調(diào)樣品臺(tái)高度。啟動(dòng)測(cè)量后，軟件實(shí)時(shí)顯示掃描進(jìn)度與三維形貌圖，測(cè)量過程中避免觸碰設(shè)備。測(cè)量完成后，可在軟件中進(jìn)行數(shù)據(jù)分析（如計(jì)算粗糙度、高度差），并將結(jié)果保存為圖片或表格格式。實(shí)驗(yàn)結(jié)束后，關(guān)閉設(shè)備電源，斷開電腦連接，用干布擦拭樣品臺(tái)與機(jī)身，若鏡頭表面有灰塵，可用專用鏡頭紙輕輕擦拭。定期（建議每學(xué)期）檢查設(shè)備光學(xué)部件是否偏移，若發(fā)現(xiàn)測(cè)量結(jié)果異常，及時(shí)聯(lián)系專業(yè)人員校準(zhǔn)。
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