產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
上一個：
返回列表
服務(wù)熱線
17701039158
產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心三維光學(xué)輪廓儀BEUKER白光干涉光學(xué)輪廓儀BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
產(chǎn)品簡介
BEUKER光學(xué)輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)BEUKER三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀為微納尺度表面檢測提供高效解決方案。其模塊化設(shè)計支持靈活配置，滿足多樣化測量需求
BEUKER三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀為微納尺度表面檢測提供高效解決方案。其模塊化設(shè)計支持靈活配置，滿足多樣化測量需求。布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀產(chǎn)品特點(diǎn)
快速掃描：單次測量時間小于3秒，適合批量檢測。
多模式分析：支持白光干涉和共聚焦模式切換，適應(yīng)不同反射率樣品。
布魯克三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀關(guān)鍵參數(shù)
垂直分辨率：0.1nm
最大視場：5mm×5mm
重復(fù)性誤差：<1%
布魯克三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀型號推薦
BKI-250：經(jīng)濟(jì)實(shí)用型，適合教學(xué)與小規(guī)模檢測。
BKI-350：工業(yè)級配置，抗振動干擾能力強(qiáng)。
布魯克三維測量白光干涉光學(xué)輪廓儀應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測
MEMS器件形貌分析
光學(xué)鍍膜均勻性評估
操作指南
清潔樣品表面以避免雜散光干擾。
根據(jù)樣品特性選擇干涉或共聚焦模式。
使用校準(zhǔn)片定期進(jìn)行設(shè)備校驗(yàn)。
布魯克白光干涉光學(xué)輪廓儀：高效測量微納結(jié)構(gòu)
服務(wù)熱線：17701039158
公司地址：北京市房山區(qū)長陽鎮(zhèn)
公司郵箱：qiufangying@bjygtech.com掃碼加微信
Copyright©2026 北京儀光科技有限公司 版權(quán)所有 備案號：京ICP備2021017793號-2 sitemap.xml
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸