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澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學(xué)測量或全溫區(qū)測量功能。
更新時間：2026-01-04
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瀏覽量：916
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片電極聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學(xué)測試環(huán)境。
更新時間：2026-01-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：788
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。
更新時間：2026-01-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：775
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
更新時間：2026-01-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：669
澤攸STM-TEM力電一體測量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
更新時間：2026-01-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：739
澤攸STM-TEM光電一體測量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量
更新時間：2026-01-04產(chǎn)品型號：瀏覽量：756
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