使用成像共聚焦顯微鏡對(duì)增材制造表面形貌的穩(wěn)健測(cè)量

作者： 納奇斯維拉爾 ， 羅杰阿蒂加斯 ，森索法技術(shù)， S . L .（西班牙）；馬蒂 Duocastella ，大學(xué)。德巴塞羅那（西班牙）；吉列姆·卡萊斯·桑塔卡納，森索法爾技術(shù)公司（西班牙）

2023年6月27日·北京時(shí)間10點(diǎn)50分至11點(diǎn)10分|國(guó)際會(huì)議中心14c室

Narcis Vilar的論文介紹了一種用于測(cè)量增材制造（AM）零件表面紋理的優(yōu)化光學(xué)系統(tǒng)。該系統(tǒng)具有寬視場(chǎng)和高數(shù)值孔徑，可應(yīng)對(duì)表面不規(guī)則性和反射率變化帶來(lái)的挑戰(zhàn)。將市售目鏡與定制設(shè)計(jì)的管狀鏡頭集成可實(shí)現(xiàn)放大率和適用于AM零件特征的有效數(shù)值口徑。 該系統(tǒng)采用共焦式HiLo技術(shù)，并成功地表征了金屬AM部件。還討論了提高性能潛力的顯微鏡物鏡的設(shè)計(jì)。此外，使用高動(dòng)態(tài)范圍（HDR）的方法，結(jié)合多個(gè)低動(dòng)態(tài)范圍圖像，使重建一個(gè)單一的地形圖，以解決反射率的變化。總體而言，本文證實(shí)了這種光學(xué)系統(tǒng)，其廣泛的空間特征覆蓋范圍和HDR能力，提供了一個(gè)多功能的解決方案，適用于各種科學(xué)和工業(yè)方面。

光學(xué)輪廓術(shù)中掃描非線性的計(jì)算自校正  

作者： 萊娜朱科娃 ， 羅杰阿蒂加斯 ，吉勒姆卡萊斯桑塔卡納，Sensofar-Tech， S . L .（西班牙）

2023年6月27日· 12：30 - 12：50歐洲中部時(shí)間|ICM房間14 c

另一方面， Lena Zhukova 的論文重點(diǎn)關(guān)注一種減少使用電動(dòng)線性平臺(tái)進(jìn)行掃描的光學(xué)輪廓儀中非線性的計(jì)算方法。 通過(guò)分析由已知位移分離的兩個(gè)地形圖（可從單次掃描中提?。?，該算法預(yù)測(cè)并消除定位系統(tǒng)誤差，顯著提高測(cè)量精度。這種的解決方案為解決電動(dòng)線性載物臺(tái)中的非線性問(wèn)題提供了一種實(shí)用而有效的方法，擴(kuò)大了光學(xué)輪廓測(cè)量在各個(gè)行業(yè)和研究領(lǐng)域的適用性。

SPIE 光學(xué)計(jì)量學(xué)以展示光子學(xué)及相關(guān)技術(shù)的前沿進(jìn)展而聞名，為 維拉爾 和 朱可娃 提供了一個(gè)理想的平臺(tái)，與全球科學(xué)界分享他們的前沿研究。Sendix贊揚(yáng)他們的杰出貢獻(xiàn)，并期待他們的工作將對(duì)計(jì)量領(lǐng)域產(chǎn)生深遠(yuǎn)影響 。 .